偏光片/光学膜光轴测量仪采用偏振光光电探测技术对透过材料的偏振光进行高精度采集测量，从而计算出偏振材料主轴相对机械坐标的夹角，用于指导生产出符合客户要求角度的偏振材料。对于传统偏振材料的裁切，其需求角度和裁切角度通常会有一定的偏差，有时会达到0.5°、1°甚至更大，导致后续产品的加工中造成品质差异。因为偏振材料不同轴角度的组合会带来输出光强的不一致，客户直观体验出现明显差异。而吸收轴测量仪目前阶段只能针对偏振片进行测量，如补偿膜、离型膜就无法进行检测。偏光片/光学膜光轴测量仪通过双偏振模组机构，实现了一台设备的综合测量；全自动检测，为产品的品质保障提供有力的数据支撑。
产品详情
偏光片，光学膜。
1. 减少人为误差；
2. 预先选定测量类型，其中偏振膜与其他薄膜测量算法不同。
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序号 |
项目 |
参数 |
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1 |
型号 |
NWV-FAM |
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2 |
检测原理 |
偏振光光电探测技术 |
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3 |
偏光片测量角度范围 |
0-180° |
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4 |
离型膜测量范围 |
0-90° |
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5 |
补偿膜测量范围 |
0-90° |
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6 |
测量精度 |
±0.05° |
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7 |
分辨率 |
0.02° |
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8 |
视野范围 |
φ30mm |
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9 |
光源 |
LED 632.8nm |
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10 |
显示方式 |
台式电脑 |
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11 |
供电方式 |
AC 100-240V 50/60HZ |
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12 |
尺寸 |
304x350x500mm |
